XPS, X-ray Photo-electron Spectrometer
The X-Ray Photo-electron Spectroscopy (XPS) system will be used for high-resolution chemical imaging, non-damaging depth profiling, sub-monolayer analysis and band gap measurements on energy conversion devices and model systems.
Further description is contained in Instructions to Tender.
Deadline
Fristen for modtagelse af bud var på 2016-06-30.
Indkøbet blev offentliggjort på 2016-05-30.
Leverandører
Følgende leverandører er nævnt i tildelingsbeslutninger eller andre indkøbsdokumenter:
Hvem?
Hvad?
Hvor?
Indkøbshistorik
| Dato |
Dokument |
| 2016-05-30
|
Udbudsbekendtgørelse
|
| 2016-08-31
|
Bekendtgørelse om indgåede kontrakter
|